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Mr
力 何
(清华大学工程物理系)
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摘要:本文设计了两款针对不同应用的GEM专用读出电子学芯片。一款是用于X射线偏振仪读出的专用芯片,由于X射线偏振仪的特殊应用,这款芯片输出信号具有10ns的上升时间以及100mV/fC的电荷增益。另一款芯片则主要用于nTPC的读出,该款芯片电荷增益四档可调,输入信号的动态范围为50fC到1pC;该芯片成形时间四档可调,调节范围为20ns至80ns。本文还将介绍芯片内实现的峰采样保持电路,该电路可以采样保持前端前放成形电路输出信号的峰值,由后端ADC数字化。峰采样保持电路可以降低后端ADC的采样率要求。芯片采用Chartered0.35 CMOS工艺,本文将详细介绍芯片的设计及测试结果。
关键词:专用集成电路;GEM;峰采样保持电路;
Primary author
Mr
力 何
(清华大学工程物理系)