Speaker
煜明 林
(北京大学)
Description
未来正负电子对撞机通过对 $t\bar{t}$ 阈值进行扫描,为顶夸克质量、宽度、强耦合常数以及顶夸克汤川耦合的高精度测量提供了独特契机。本研究首次展示了对这些参数进行同时测定的前景研究,并将环形正负电子对撞机(CEPC)的最新参考探测器设计纳入其中。研究表明,在不考虑截面理论不确定性的情况下,顶夸克质量的测量精度可达几个 MeV,这比高亮度大型强子对撞机(HL-LHC)的预期结果提高了近两个数量级。目前,截面计算的理论不确定性是限制该精度进一步提升的主要因素。
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