Speaker
Kaihang Li
(Tsinghua University)
Description
液氙探测器对介质纯度具有极高要求，探测器材料放气是氧、水等电负性杂质的重要来源，会影响电子寿命和电荷收集效率。本研究面向 RELICS 双相液氙 TPC 原型探测器，开展了关键材料放气率的系统测量，分别研究了材料在常温和低温条件下的放气行为，分析了温度变化对放气率的影响，并评估了真空烘烤处理对材料放气率的抑制效果。进一步地，将测得的放气率结果与液氙纯度演化模型进行对比，用于检验材料放气对探测器纯度变化的贡献。相关研究可为液氙探测器的材料选择、预处理工艺优化和纯度控制提供实验依据。
| 请选择分会 | 中微子物理、粒子天体物理与宇宙学 |
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Primary author
Kaihang Li
(Tsinghua University)
