9–12 Aug 2026
中州华鼎饭店
Asia/Shanghai timezone

采用X射线荧光(XRF)方法对CTPX1 系统进行逐像素能量校准

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20m
中州会堂 (中州华鼎饭店)

中州会堂

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河南省郑州市登封市福佑路138号
张贴报告 电子学

Speaker

Mr 煜杰 周 (中国科学院高能物理研究所)

Description

CTPX1是一款基于Timepix4混合像素探测器读出ASIC芯片开发的高性能数据驱动成像系统,该系统集成了Timepix4芯片、读出电子学、高压单元以及温度控制子系统。Timepix4 ASIC芯片面积为24.7×30.0mm2,包含448×512(23万)个像素,像素间距55μm,可通过凸点键合技术与不同材料、不同厚度的像素传感器连接(本研究使用300μm厚Si传感器)。在数据驱动模式下,Timepix4同时记录事例的到达时间(ToA)和过阈时间(ToT),其中ToT数据可反映每个像素内沉积的能量信息。为使CTPX1系统可用于能谱成像,需要进行精确的逐像素能量校准以确保所有像素的测量精度,这一校准过程通常使用加速器设施的同步辐射X射线束完成。为了在常规实验室条件下实现灵活、高精度的逐像素能量校准,减少对加速器设施的依赖,课题组采用Timepix4芯片内部测试脉冲结合XRF方法对CTPX1系统进行了逐像素能量校准。首先使用芯片内部测试脉冲进行初步刻度,得到23万像素ToT到能量转换曲线,之后使用X射线管照射6种金属靶(Fe、Co、Cu、Zn、Mo、Sn),得到对应的XRF能谱数据并对23万像素的转换曲线进行逐像素校准。为验证该方法,使用CTPX1系统对Am241放射源进行了测量,结果表明:当仅依赖芯片内部测试脉冲时测量能量与标称能量之间的偏差约为10%,而结合XRF数据与芯片内部测试脉冲后可将偏差降低到0.5%以内,大幅提升了像素响应的一致性。此外,Am241 59.54keV光电峰的标准差降低了约15.2%,能量分辨率为7.79%@59.54keV,有效增强了测量精度。

Primary authors

Mr 煜杰 周 (中国科学院高能物理研究所) Prof. 洪斌 刘 (中国科学院高能物理研究所) Mr 骑财 李 (中国科学院高能物理研究所) Mr 伟乐 龚 (中国科学院高能物理研究所)

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