Speaker
Zibo Qin
(Peking University)
Description
宇宙射线μ子成像是一种重要的无损检测技术，但在实际测试时间内实现毫米级分辨率仍面临挑战。为此，我们提出了投影偏移μ子透射成像框架（PμMA），该框架通过融合透射与散射信息，实现了高分辨率成像。与传统依赖散射角定位的方法不同，PμMA通过连接上下游探测器记录的μ子击中位置，构建透射径迹，并将材料引起的μ子散射投影为成像平面内的可观测位置偏移。该方法仅需两个探测器即可实现毫米级分辨率成像，显著提升了可用μ子事例率，并大幅降低了系统成本。我们还发展了多探测器配置方案，通过限制最大散射角，进一步增强了对不同质量厚度材料的鉴别能力。
在模拟研究中，针对30 mm厚铅块，宇宙射线条件下获得的表征分辨能力的刃边宽度最小为1.196 mm；在4 GeV单能平行μ子束条件下，最优刃边宽度可达0.048 mm。在实验验证中，系统在2天内成功实现了对2 mm铜片结构的成像，性能优于同等条件下的传统方法。
Primary author
Zibo Qin
(Peking University)
