第十九届全国核电子学与核探测技术学术年会（NED'2018）

Name: 第十九届全国核电子学与核探测技术学术年会（NED'2018）
Start: 2018-10-15T08:00:00+08:00
End: 2018-10-17T18:00:00+08:00
Location: 湖南衡阳

15–17 Oct 2018

湖南衡阳

Asia/Shanghai timezone

开关复位型前放芯片CPRE_SW2的噪声及抗辐射性能测试

16 Oct 2018, 08:45

15m

第一会议室（三楼） (湖南衡阳)

Oral 微电子学及其应用的研究成果第二分会场（1）

Ms 子瑜暴 (中国科学院高能物理研究所)

本文介绍了一种匹配冷却型半导体探测器的开关复位型前放芯片CPRE_SW2，探索其三种不同的复位工作模式，实现对探测器信号的预处理，具有高能量分辨率低噪声的优点。文中给出了芯片的电子学测试过程及与实际探测器联调结果，并针对单粒子锁定效应对芯片进行了辐照试验。

Mr Ke WANG (Institute of high energy physics，CAS) Ms Xian LI Xian (高能所) Mr Xuelei Cao (Institute of High Energy Physics, CAS) Ms 子瑜暴 (中国科学院高能物理研究所)

Slides

01-02.baoziyu.pdf