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Nov 26 – 27, 2021
Asia/Shanghai timezone

多能谱CT成像光子计数型像素芯片设计与测试

Nov 27, 2021, 3:12 PM
18m

Speaker

Mr 学知 王 (清华大学工程物理系)

Summary

本文报告了一款光子计数型像素化读出芯片PIX以及基于该芯片的光子计数探测器模块的设计与测试结果。
PIX单颗芯片内集成了64x128个150umx150um的像素。每个像素通道内集成了前放,成型放大器,甄别器和计数器等电路,对输入的探测器电流信号进行积分,成型和多能窗计数。像素计数器数据在每个计数周期结束时进行串行化,可以实现无死时间的连续读出。芯片有两组慢控制总线接口,完成全局能窗阈值的配置以及像素间不一致性微调等功能。芯片实测成型脉宽为200ns,单通道功耗平均为65uW,噪声平均值为61e-,所有能窗的基线不一致性通过微调可降低到1.3keV光子能量。
我们将PIX芯片与欧姆电极/肖特基电极Arcorad碲化镉探测器进行倒装连接得到两种探测器模块,利用荧光材料的特征X射线对探测器模块的能量阈值进行了逐像素标定,并对两种探测器在不同偏压/计数率条件下的极化效应进行了研究。我们得到了透射图像,初步验证了探测器模块的成像功能。

Primary author

Mr 学知 王 (清华大学工程物理系)

Co-authors

Prof. 智 邓 (清华大学工程物理系) Mr 桐 魏 (清华大学工程物理系)

Presentation materials