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Nov 26 – 27, 2021
Asia/Shanghai timezone

Topmetal-M:一种用于紧凑型径迹探测应用的新型像素传感器

Nov 26, 2021, 3:18 PM
18m

Speaker

伟平 任 (PLAC, CCNU)

Summary

Topmetal-M传感器是一种新型的像素传感器,它结合了单片有源像素传感器(MAPS)和Topmetal传感器两种电荷收集方式,可收集MAPS中沉积的电荷信息以及在传感器上方沿着粒子运动轨迹的电离电荷。因此,它可以重建入射粒子的轨迹并测量粒子击中点的位置信息。通过像素内电路,Topmetal-M 可以记录粒子的能量和到达时间。 Topmetal-M 采用 130 nm 高阻 CMOS 工艺制造,旨在验证该工艺在像素传感器方面应用的可行性。根据实验室的测试结果,随机选取的 15 个像素,其 ENC 在 20 e- 和 50 e- 之间,与仿真结果基本符合。 当TAC 偏置电压设置为 2.648 V、2.748V 和 2.798 V,时序测量的动态范围分别为为 9.565 μs、46.224 μs 和 75.286 μs,这分别对应于 0.89 ns、4.29 ns 和 6.99 ns 的时间分辨率。

Primary author

伟平 任 (PLAC, CCNU)

Co-authors

Mr 向明 孙 (华中师范大学) Dr 威 周 (IMP,CAS) Mr 必辉 游 (PLAC, CCNU) Dr 承心 赵 (IMP, CAS) 超嵩 高 (N)

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