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闪烁晶体表面处理对其光输出的影响研究

17 Jul 2024, 08:45
15m
会议中心后区 (黄海饭店)

会议中心后区

黄海饭店

黄海饭店会议中心二楼
其它探测器 第一分会场(RAS5)

Speaker

致媛 毛 (四川大学物理学院)

Description

闪烁晶体的光输出是其重要性能参数,除了受闪烁晶体本身性质影响外,还受到晶体表面处理方式的影响,研究闪烁晶体表面处理对其光输出的影响,对闪烁探测器的设计与研发有重要指导意义。本文以NaI:Tl晶体为研究对象,利用COMSOL和Geant4软件,模拟不同表面粗糙度和反射层材料的晶体对光输出的影响,并进一步研究其对能量分辨率的影响。首先开展仿真模型的可行性和准确性的验证工作,然后进行详细的模拟计算与数据分析,得到结论:光输出大小随着表面粗糙度的增加先减小后增大,其中耦合TEFLON反射层效果最佳;光输出位置分布随着晶体表面粗糙度的增加逐渐失去特殊性,不同反射层表现出不同分布特征,对于裸晶体来说有呈类似干涉形状分布,对于耦合ESR反射层的晶体来说集中于光子出射位置正投影,对于耦合TEFLON反射层的晶体来说均匀分布于光子出射位置投影区域;能量分辨率随着晶体表面粗糙度的增加先变好后变差,耦合反射层的晶体能量分辨率优于裸晶体。这些结果可以为闪烁体探测的设计与研制提供有效帮助,如在满足良好的性能的情况下,可以选用TEFLON反射层耦合表面粗糙度为20um的晶体并探测整个晶体端面;在成本有限的情况下为减少探测部分的面积,可以选择使用ESR反射层耦合表面粗糙度为4um的晶体并探测晶体的局部端面。

Primary authors

Ms 佳欣 李 (四川大学物理学院) 致媛 毛 (四川大学物理学院) Prof. 忠海 王 (四川大学物理学院) Mr 贾其 白 (四川大学物理学院)

Presentation materials