第十六届全国核电子学与核探测技术学术年会

CCD的辐射损伤参数测试方法

16 Aug 2012, 09:24

12m

6F会议室 (四川绵阳豪瑞特酒店)

paper 抗辐射 第三分会场（核监测、核技术与公共安全、核仪器、抗辐射电子学与电磁脉冲）

Speaker

Mr 豫东 李 (中国科学院新疆理化技术研究所)

Description

摘要：为了深入开展CCD的辐射效应研究，开发了CCD的辐射损伤参数测试方法与测试软件，与新疆理化所现有的CCD辐射效应硬件测试系统相结合，能准确、高效地实现CCD辐射损伤参数的定量测试与分析，可测试的参数包括暗信号、电荷转移效率、饱和输出电压、固定图像噪声以及光谱响应特性等。应用此方法获得了某TDI CCD、线阵CCD器件受60Co γ源辐照前后的参数变化规律，结果表明，该测试方法具有较好的适应性，可为CCD的辐射效应研究、空间应用选型、抗辐射性能评估提供良好的试验技术支撑。 关键词：CCD；辐射效应；参数测试方法；光谱响应特性。