Speaker
栩华 田
(CCNU)
Description
在这项研究中，我们提出一种新颖的方法，通过分析 $\pi^{-}$ 与 $\pi^{+}$ 产额差 $\Delta n_{\pi}$ 的逐事件分布，来预测金核的中子皮厚度。借助 SMASH 模型，我们模拟了$\sqrt{s_{\mathrm{NN}}}=3$~GeV 下的超偏心 Au+Au 碰撞。结果显示，$\Delta n_{\pi}$ 的平均值、$(\pi^{-}+\pi^{+})$ 与 $(\pi^{-}-\pi^{+})$ 之间的皮尔逊相关系数，均与中子皮厚度有显著的线性关系；更重要的是，逐事件分布中连接不同 $\Delta n_{\pi}$ 值点的直线斜率也表现出同样的线性依赖，其中，最敏感的$\Delta n_{\pi}$ 对为 $(-1,1)$、$(-1,2)$、$(0,1)$ 和 $(0,2)$，为实验测定提供了全新的可观测量。最后，在完全相同的初始条件下对比 SMASH 与 UrQMD 模型结果，发现虽然斜率依赖于具体模型，但只需从实验逐事件数据中提取多组 $\Delta n_{\pi}$ 斜率并反推对应的中子皮厚度，即可判别哪个模型更贴近真实物理，从而有效降低理论不确定性。
