Speaker
Mr
文 杜
(华中师范大学)
Description
航空航天和高能物理实验的不断发展，对芯片的抗辐照能力提出了更高的要求。因此，如何精确的测量集成电路内部微结构电路的抗辐照能力，是必须考虑的问题。鉴于此，本文研制了一套能精确测试芯片抗辐照能力的系统。本文主要介绍该系统的硬件部分。该系统硬件部分由VC_BOARD、LU_BOARD和HPDAQ2组成。VC_BOARD主要包含一块MIMOSA芯片，该芯片是为正负电子对撞机实验设计的顶点和径迹探测器，是 MAPS 系列的主要探测器。该款探测器芯片用于带电粒子探测，它具有极高的空间分辨（几微米）、抗辐照能力（～10^13 neq/cm^2），可以精确定位被测芯片受辐照的位置。LU_BOARD是保护板，当击中MAPS芯片的粒子过多时，MAPS芯片内部的电流会急剧增大，该板能在电流过大时切断VC_BOARD的电源，从而保护MAPS芯片。HPDAQ2是自研的读出系统，能够将数据快速读出，通过光纤将数据传输至PC端进行数据处理。
Primary author
Mr
文 杜
(华中师范大学)
Co-authors
Dong Wang
(C)
Mr
Fan Shen
(Central China Normal University)
