Speaker
bt zhang
(清华大学)
Description
高纯锗探测器技术是0νββ实验研究中的代表性探测技术。0νββ末态的两个电子在锗晶体内射程很短，可以认为是“单点事例”。相反，环境本底事例则多为“多点事例”，因此可以通过单点/多点事例甄别去除多点事例从而压低本底。本工作基于BEGe和PPCGe两种类型高纯锗探测器，使用电流最大值参数A和沉积能量E的比值A/E作为甄别参数，开展了单点/多点事例甄别方法研究，取得了显著的降低本底的效果，并利用放射源刻度数据对甄别效率进行了检验。
Primary author
bt zhang
(清华大学)
Co-author
Dr
丽桃 杨
(Tsinghua University)
