Speaker
彦韬 刘
(中国科学院高能物理研究所)
Description
康普顿散射断层成像是通过探测散射X/γ射线强度来反映物体内部电子密度分布，可实现单侧、原位、实时、三维成像的无损检测技术。我们近期开发了一套简易康普顿散射断层成像样机（图1），由X光机、面阵探测器、单针孔准直器和移动平台构成，面阵探测器采用21×21像素的高性能GAGG闪烁体阵列，单像素尺寸为2.1mm×2.1mm；单针孔准直器的开孔尺寸为0.8mm，张角为90°，固定在探测器前端，与探测器距离内部可调。X光机和整套探测系统均位于被测样品同侧，出射X射线经前准直器准直为约2mm宽的扇束，以45°角斜入射被测样品，与样品发生康普顿散射后再经单针孔准直器被面阵探测器收集。每次成像可获得一帧二维截面，通过载物平台步进或连续平移即可获得多帧二维截面图，将多帧图像堆叠即可实时获得物体三维结构。成像结果（图2）表明，该样机能准确地重建样品(小药瓶)的三维轮廓和内部空腔，空间分辨率约为1.5 mm。我们后续将开展优化设计，对成像结果进行相关几何校正和衰减校正等，相信该技术在地下物体、墙体材料、大型航空航天部件等高精度无损检测应用中将具有良好的发展潜力。
Primary author
彦韬 刘
(中国科学院高能物理研究所)
