第二届半导体辐射探测器研讨会暨国际高层论坛 Second Workshop of Semiconductor Radiation Detectors and International High Level Forum

开关复位型前放芯片CPRE_SW2的噪声及抗辐射性能测试

Not scheduled

15m

湘潭大学

Description

本文介绍了一种匹配冷却型半导体探测器的开关复位型前放芯片CPRE_SW2，探索其三种不同的复位工作模式，实现对探测器信号的预处理，具有高能量分辨率低噪声的优点。文中给出了芯片的电子学测试过程及与实际探测器联调结果，并针对单粒子锁定效应对芯片进行了辐照试验。

Summary

对芯片进行完整的噪声测试与抗辐照测试后我们发现芯片具有较低的噪声和较高的抗单粒子锁定（SEL）性能。